반도체 사업부
OKins전자 반도체사업부에서는 팹리스(Fabless) 및 디자인하우스(Design, IC 설계)로 부터 설계되어 제작된 반도체 Wafer 및 Package IC에 대하여 전문적인 반도체 Test 기술을 바탕으로 반도체 Test 서비스를 제공합니다.
- Analog IC, Mixed signal IC, Power Discrete(MOS-FET), etc
- MEMS Sensor 소자 및 ROIC, Sensor Module, Optical Sensor IC, Pressure Sensor Module, Temperature & Humidity Sensor, Hall Sensor, etc
- 반도체 IC Test에 필요한 Test Program개발(S/W) 및 Hardware 개발
- 축적된 기술력을 바탕으로 하는 양산 Knowhow 및 관리
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- 반도체 테스트 개발 (Application develop)
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- Test program 개발
- Hardware 개발 : Test Board 개발, 각 종 Test jig 개발
- FA Engineering
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- Wafer Probing test
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Typical Non-Memory wafer probing test
- (5, 6, 8, 12 inch Wafer loading)
- WLCSP Bump test
- MEMS Sensor product probing test
- Optical Sensor product probing test
- LED Wafer probing test
- Probe card 개발
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- 패키지(Package) IC Test
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- BGA / QFN / DFN / ODFN / SOP Package IC test
- Test Board, Test Socket 개발, 각 종 Test jig 개발
- Multi parallel test : 4 ~ 8 parallel
- MEMS Accelerator & Gyro sensor test
TEST 주요제품군
- Analog Test
- Optic Device Test
- Digital Logic Test
- Sensor Element & ROIC Test
- Mixed Signal Test
- MEMS Element Test
- PMIC Test
- LED Wafer Test
- Discrete Test (MOSFET, SIC MOSFET)